無(wú)損檢測(cè)GE傳感與檢測(cè)科技不久前在上海召開(kāi)的世界無(wú)損檢測(cè)大會(huì)(WCNDT)上展出了其在無(wú)損檢測(cè)(NDT)領(lǐng)域的最新解決方案。作為此次大會(huì)的主贊助商，該公司推出了一系列尤其引人注目的產(chǎn)品，其中包括：第一臺(tái)真正意義上的手持式工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡XL Go、CRx Flex計(jì)算機(jī)射線成像掃描儀(專(zhuān)為NDT領(lǐng)域開(kāi)發(fā))、Phasec 3系列便攜式渦流探傷儀以及全新的Phasor系列便攜式相控陣探傷儀。 所謂NDT，即Non-destructive testing，是指對(duì)材料或工件實(shí)施一種不損害或不影響其未來(lái)使用性能或用途的檢測(cè)手段。廣泛的應(yīng)用于石油天然氣、航空航天、電力、汽車(chē)以及通用工程領(lǐng)域。在半導(dǎo)體領(lǐng)域，NDT一詞也并不陌生。無(wú)論在SOI、半導(dǎo)體拋光晶片缺陷檢測(cè)、高速信號(hào)處理檢測(cè)、集成電路焊接的檢測(cè)方面，都可以看到NDT技術(shù)活躍的身影。而在對(duì)品質(zhì)要求極為嚴(yán)格的汽車(chē)半導(dǎo)體領(lǐng)域，NDT也在受到越來(lái)越多汽車(chē)半導(dǎo)體廠商的重視。 “同其他行業(yè)一樣，NDT同樣廣泛的使用在半導(dǎo)體和電子制造業(yè)?！痹诖髸?huì)第二天舉行的記者會(huì)上，GE傳感與檢測(cè)科技業(yè)務(wù)總監(jiān)Jeff Anderson表示，“比如我們的Phoenix X掃描系統(tǒng)，無(wú)論在半導(dǎo)體制造、元器件的檢測(cè)還有印刷板的檢測(cè)上都有著相當(dāng)廣泛的應(yīng)用。” 盡管早在一年前GE就已經(jīng)收購(gòu)了德國(guó)Phoenix X射線公司，但是此次大會(huì)才是兩者技術(shù)結(jié)合后的首次聯(lián)袂亮相。Phoenix X系列的新產(chǎn)品，計(jì)算機(jī)斷層和2D微焦點(diǎn)及納米焦點(diǎn)X射線掃描系統(tǒng)成為GE展臺(tái)上較為引人注目的產(chǎn)品之一。 Phoenix X計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)的應(yīng)用范圍相當(dāng)廣泛。從緊湊型實(shí)驗(yàn)室系統(tǒng)(如Nanotom)到花崗巖工作臺(tái)上的CT，不一而足。此外，它在汽車(chē)行業(yè)也有廣泛應(yīng)用。“每一項(xiàng)設(shè)計(jì)工作都是為了精確運(yùn)行而進(jìn)行的。此外，我們還配備了GE內(nèi)部開(kāi)發(fā)的數(shù)據(jù)采集和斷層掃描軟件，以便更加輕松地對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行控制，從而迅速精確的重構(gòu)被測(cè)物體的數(shù)據(jù)?！?